1. HOME
  2. 事業案内・主要設備
  3. その他材料評価装置
  4. SEM、光学顕微鏡等
その他材料評価装置

SEM、光学顕微鏡等

各装置名をクリックすると、外観写真と主な仕様がご覧になれます。

走査型電子顕微鏡(SEM) 20000倍までの表面微細構造観察
光学顕微鏡 1000倍までの表面組織観察
ビッカース硬度計 最大荷重:50 kgf 圧痕サイズ:1 μm
微小硬度計 最小荷重:0.2 kgf 圧痕サイズ:0.1 μm
ピクノメータ(真密度測定装置) Heを用いて乾式で真密度を測定
熱電特性測定装置 熱電材料のゼーベック係数と電気抵抗率を同時測定

走査型電子顕微鏡(SEM)

走査型電子顕微鏡(SEM)

【製造元】 日本電子株式会社
【型 式】 JSM-5200
【加速電圧】 25 KV
【実用最高倍率】 20000倍

光学顕微鏡

光学顕微鏡

【製造元】 株式会社ニコン
【型 式】 LV150
【最高倍率】 1000倍

ビッカース硬度計

ビッカース硬度計

【製造元】 株式会社ミツトヨ(旧株式会社アカシ)
【型 式】 AVK-A2
【試験加重】 1~50 kgf
【圧痕寸法】 1 μm
【圧 子】 ダイヤモンド

微小硬度計

微小硬度計

【製造元】 株式会社ミツトヨ(旧株式会社アカシ)
【型 式】 MVK-G3
【試験加重】 0.2~2000 gf
【圧痕寸法】 0.1 μm
【圧 子】 ダイヤモンド

ピクノメータ(真密度測定装置)

ピクノメータ(真密度測定装置)

Heを用いて乾式で真密度を測定
【製造元】カンタクローム・インスツルメンツ・ジャパン合同会社(旧ユアサアイオニクス株式会社)

熱電特性測定装置(修理中)

熱電特性測定装置

熱電材料の電気抵抗、熱起電力を測定
【製造元】 アルバック理工株式会社
【型 式】 ZEM-1
【試験温度】 室温~1000 ℃
【測定可能な材質】 導電性材料

【試料寸法】 直径φ2~5,
長さL13~18 mm,□2~5mm

【測定雰囲気】 不活性ガス

その他材料評価装置