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熱物性解析・構造解析

放射率測定装置

主な用途

導電性材料および導電性材料表面に形成した膜の半球全放射率測定

主な仕様

対象材料 導電性材料
測定項目 半球全放射率
測定温度 500~1200 ℃
試料寸法 幅W10×厚さT0.5×長さL180 mm
雰囲気 真空

主な特徴

熱量法にて導電性材料の半球全放射率を500~1200 ℃程度の範囲で測定する。導電性材料表面に形成した皮膜の半球全放射率についても測定可能。

装置の説明図および写真

半球全放射率測定原理図
放射率測定装置の外観
放射率測定装置の外観
セットした試料の外観(中央の白い帯状の物が試料)
セットした試料の外観
(中央の白い帯状の物が試料)
測定中試料の状況(覗き窓奥の赤熱した物が試料)
測定中試料の状況
(覗き窓奥の赤熱した物が試料)

実績・その他情報

SUS304の半球全放射率の測定例
SUS304の半球全放射率の測定例

熱物性解析・構造解析